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开关设备导体的电阻损耗引起的发热
更新日期:2021-08-26     浏览次数:146
核心提示:3 触指热稳定性校核 当短路电流流经触头,接触点处的电阻值大时,使接触位置急剧升温,先到达材料软化点,当温度持续升高,会达到熔点温度,会出现局部熔化

3 触指热稳定性校核 当短路电流流经触头,接触点处的电阻值大时,使接触位置急剧升温,先到达材料软化点,当温度持续升高,会达到熔点温度,会出现局部熔化或焊接情况[3-6]。依据触指材料尺寸及机械特 性,得出接触点温升,并采用电压降法进行校核,保证触指热稳定性。 3.1 短路电流下触头温升计算 开关设备中发热会导致电器性能和零部件机械性能降低,严重发热时影响设备性能或事故发生。开关设备导体的电阻损耗引起的发热,电阻损耗功率 。快速接地开关动触头直径为 36mm,通流后肌肤效应不明显,因此计算触头电阻时,肌肤效应 引起的附加损耗不予考虑。短路电流的持续时间为 4s,在整个通流过程中,假定导体的电阻率不变,电流和功率损耗值同样保持不变,