正反两面先后进行光刻显影与干法刻蚀
更新日期:2021-12-27     浏览次数:104
核心提示:1. 硅基过滤片设计与加工:利用标准的光刻技术,在表面覆盖100~200nm的氮化硅片的正反两面先后进行光刻显影与干法刻蚀,正面光刻图形为直径10um的圆形

1. 硅基过滤片设计与加工:利用标准的光刻技术,在表面覆盖100~200nm的氮化硅片的正反两面先后进行光刻显影与干法刻蚀,正面光刻图形为直径10um的圆形孔阵列,背面套刻图形为边长为10mm的正方形阵列。用黑蜡涂覆硅片正面,保护正面图形,然后将硅片放入KOH溶液中,从背面正方形窗口进行湿法刻蚀。预留约80um厚的硅薄膜,再使用干法刻蚀从正面将微米级的孔阵列刻穿,最后用激光将硅片划成12mm*12mm独立的过滤片。硅基过滤片及孔间距如图1所示。硅基过滤片的孔径固定为10um,通过改变孔的边缘距离(孔间距),进而改变过滤片的通量。