基于高光谱技术的玉米种子霉变识别方法研究
更新日期:2021-01-15     来源:光谱学与光谱分析   作者:贾银江  浏览次数:181
核心提示:最新的研究成果,本论文的主要观点为利用波长范围在400~1000nm的光谱数据对不同霉变程度的玉米种子进行检测区分。本文采用高光谱成像仪获取同一品种5

最新的研究成果,本论文的主要观点为利用波长范围在400~1000nm的光谱数据对不同霉变程度的玉米种子进行检测区分。本文采用高光谱成像仪获取同一品种5个霉变等级的玉米种子高光谱影像数据,使用ENVI5。3软件选取感兴趣区域;利用Kennard-Stone算法按照3:1比例划分预测集和验证集;利用多项式卷积平滑(SG)、多元散射校正(MSC)和标准正态变量变换(SNV)进行数据预处理;通过连续投影法(SPA)和无信息变量消除法(UVE)进行特征变量提取;采用Linear核函数的SVM、Quadratic核函数的SVM、BP神经网络和ACO-BP神经网络4种模型建立分类模型,其中SNV-UVE-ACO-BP神经网络模型分类效果最优,预测集准确率为98。67%,验证集准确率为92%。结果表明,高光谱成像结合SNV-UVE-ACO-BP神经网络算法建立的分类模型能够快速、准确、无损实现玉米种子霉变识别,为玉米种子早期霉变检测及玉米选种提供了技术支持与新思路。不知是否符合录用要求,望您批评与指正。