效VCSEL退化的正确性
更新日期:2022-03-31     浏览次数:100
核心提示:2实验方法实验采用的样品为850nm多模VCSEL,根据实验样品的扫描透射电镜(Scanning Transmission Electron Microscopy,STEM)测试结果获得该款器件的

2 实验方法

实验采用的样品为850 nm多模VCSEL,根据实验样品的扫描透射电镜(Scanning Transmission Electron MicroscopySTEM)测试结果获得该款器件的结构参数如下,最底层为nGaAs衬底,上下DBR对数分别为20.538.5对,有源区为3个量子阱结构。在此结构上我们使用Silvaco软件进行建模,其中上下DBR部分分别使用2×1018 cm-3p型和n型掺杂,相邻DBR高低折射率材料的组分及厚度分别为Al0.9Ga0.1As/39 nmAl0.12Ga0.88As/50 nm,在相邻折射率材料之间使用20 nm的组分渐变层过渡有源区无掺杂,分别使用GaAs/8 nmAl0.3Ga0.7As/8 m作为发光层和包覆层。顶部设置5 nm 1×1019 cm-3重掺杂作欧姆接触。氧化限制层使用Al2O3并设置了6 um的氧化孔径。模型结构如图1(a)所示,图1(b)为器件工作时量子阱区域部分放大图。实际测试得该器件的最佳工作电流为25mA,峰值光功率为18mW